[实用新型]一种用于晶圆级封装微小芯片的提取翻转置位设备有效
申请号: | 201120116434.X | 申请日: | 2011-04-19 |
公开(公告)号: | CN202025729U | 公开(公告)日: | 2011-11-02 |
发明(设计)人: | 刘劲松;郭俭;钟亮 | 申请(专利权)人: | 上海微松工业自动化有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/68 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 林君如 |
地址: | 201114 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种用于晶圆级封装微小芯片的提取翻转置位设备,包括芯片供给平台、翻转装置、提取置位装置、载带供给覆膜装置及图像处理系统,芯片供给平台设在最下部,提取置位装置设在芯片供给平台的上部,翻转装置设在提取置位装置的上部,载带供给装置、载带压膜装置设在提取置位装置的后部,各工位有图像对位处理系统,芯片供给平台XYθ三个轴,翻转装置有Zθ两个轴,提取装置固定于Z向运动机构的滑块上,有XYZθ四个轴,可上下运动,载带供给装置采用卷送料盘的形式,并在中央进行置位芯片覆膜等工序,有Zθ两个轴。本实用新型可在微小芯片提取置位过程中翻转芯片,一步完成后道工序,方便芯片直接应用,提高生产效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 晶圆级 封装 微小 芯片 提取 翻转 设备 | ||
【主权项】:
一种用于晶圆级封装微小芯片的提取翻转置位设备,其特征在于,该设备包括晶圆划片后的芯片供给平台、翻转装置、提取置位装置、载带供给装置、载带压膜装置及图像处理系统,所述的芯片供给平台设在最下部,所述的提取置位装置设在芯片供给平台的上部,所述的翻转装置设在提取置位装置的上部,所述的载带供给装置及载带压膜装置设在提取置位装置的后部,上述装置均与图像对位处理系统连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造