[实用新型]利用基板对位孔测量基板变形量的测量装置有效

专利信息
申请号: 201120191211.X 申请日: 2011-06-09
公开(公告)号: CN202126249U 公开(公告)日: 2012-01-25
发明(设计)人: 叶荣华 申请(专利权)人: 义仓精机股份有限公司
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型公开了一种利用基板对位孔测量基板变形量的测量装置,包括一承载平台,该承载平台的顶面供承载一基板,该基板邻近其四边中央的位置上分别开设一对位孔;一透明板体,设在承载平台的上方,透明板体邻近其四边中央的位置分别设一基准图样,透明板体的底面抵靠在基板的顶面;及四部影像检索单元,设在透明板体的上方,分别对应于各该基准图样的位置,各该影像检索单元分别对各该基准图样及各该对位孔进行拍摄,以分别取得一测量影像。本实用新型以透明板体四边中央的基准图样,对应于基板四边中央的各对位孔,各对位孔不会过度远离各基准图样,各影像检索单元不需作任何移动,便能拍摄到各该对位孔及基准图样,大幅提升测量作业的效率。
搜索关键词: 利用 对位 测量 变形 装置
【主权项】:
一种利用基板对位孔测量基板变形量的测量装置,其特征在于包括:一承载平台,该承载平台的顶面供承载一基板,其中该基板邻近其四边中央的位置上分别开设有一对位孔;一透明板体,设置在该承载平台的上方,该透明板体邻近其四边中央的位置分别设有一基准图样,该透明板体的底面能抵靠在该基板的顶面;及四部影像检索单元,设在该透明板体的上方,且分别对应于各该基准图样的位置,各该影像检索单元分别对各该基准图样及各该对位孔进行拍摄,以分别取得一测量影像。
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