[实用新型]CD芯片功能参数自动测试装置有效

专利信息
申请号: 201120291745.X 申请日: 2011-08-11
公开(公告)号: CN202182934U 公开(公告)日: 2012-04-04
发明(设计)人: 章圣表;潘子升;魏建中 申请(专利权)人: 杭州士兰微电子股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙) 33231 代理人: 张宇娟
地址: 310012*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了CD芯片功能参数自动测试装置包括CPU处理模块(211)、初始化CD芯片模块(212)、音频参数诊断模块(213)、多路选择开关模块(214)、时钟信号输出模块(215)、USB接口数据处理模块(216)、CD伺服驱动模块(217)、SD卡接口数据处理模块(218)以及LCD显示模块(21a)。本实用新型实现了CD芯片功能参数自动化测试,节省了芯片测试过程所需时间,提高了工作效率。
搜索关键词: cd 芯片 功能 参数 自动 测试 装置
【主权项】:
CD芯片功能参数自动测试装置,其特征在于,包括CPU处理模块(211)、初始化CD芯片模块(212)、音频参数诊断模块(213)、多路选择开关模块(214)、时钟信号输出模块(215)、USB接口数据处理模块(216)、CD伺服驱动模块(217)、SD卡接口数据处理模块(218)以及LCD显示模块(21a);CPU处理模块(211)分别与初始化CD芯片模块(212)、音频参数诊断模块(213)、多路选择开关模块(214)以及LCD显示模块(21a)连接;多路选择开关模块(214)分别与USB接口数据处理模块(216)、CD伺服驱动模块(217)以及SD卡接口数据处理模块(218)连接;音频参数诊断模块(213)连接待测CD芯片的音频输出模块(224);多路选择开关模块(214)连接待测CD芯片的USB解码模块(225)、CD伺服解码模块(226)以及SD卡解码模块(227);初始化CD芯片模块(212)连接待测CD芯片的闪存存储模块(222);时钟信号输出模块(215)连接待测CD芯片的时钟模块(228)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州士兰微电子股份有限公司,未经杭州士兰微电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201120291745.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top