[实用新型]阵列基板的检测设备有效
| 申请号： | 201120378351.8 | 申请日： | 2011-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN202230272U | 公开（公告）日： | 2012-05-23 |
| 发明（设计）人： | 曹宇;魏广伟;黄雄天;唐涛 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01N21/84 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100176 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型实施例提供一种阵列基板的检测设备，涉及液晶显示器领域，避免了阵列基板的检测设备在检测阵列基板时，漂浮型灰尘颗粒不良的检出，提高了后续修复工艺的效率，降低了生产成本。一种阵列基板的检测设备，包括：光学检测设备，在所述光学检测设备外的至少一侧设置有用于吸除阵列基板上的漂浮型灰尘颗粒的除尘装置。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 检测 设备 | ||
【主权项】：
一种阵列基板的检测设备，包括：光学检测设备，其特征在于，在所述光学检测设备外的至少一侧设置有用于吸除阵列基板上的漂浮型灰尘颗粒的除尘装置。
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