[实用新型]密距脚集成电路测试分选机有效

专利信息
申请号: 201120395106.8 申请日: 2011-10-17
公开(公告)号: CN202270662U 公开(公告)日: 2012-06-13
发明(设计)人: 陈贤明;林宽强 申请(专利权)人: 深圳市矽格半导体科技有限公司
主分类号: B07C5/344 分类号: B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36
代理公司: 深圳市博锐专利事务所 44275 代理人: 张明
地址: 518000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及一种密距脚集成电路测试分选机,它包括机架,机架上与水平面呈倾斜设置有工作台,于倾斜工作台上固定安装有机械手。本实用新型的有益效果在于将轨道拆分为三部分配合的结构,使得其需配合密距脚料的过料通道从传统下轨中与IC接触的上轨独立出来,使用高精度独立加工密度精密轨面制成精密加工轨,从而使IC可在精密加工轨于上轨间形成的过料通道中的滑动更加顺畅,进一步,工作台与水平面夹角成32°,从而32°斜坡重力滑料轨有效地利用了器件的物理重力下滑特性,使IC在轨道中滑动更加顺畅,杜绝了传统轨道的卡料及IC导向偏位问题,有效提高了测试精准度及生产效率使器件在轨道中快速下滑(减少摩擦力)。
搜索关键词: 密距脚 集成电路 测试 分选
【主权项】:
一种密距脚集成电路测试分选机,其特征在于:它包括机架,机架上与水平面呈倾斜设置有工作台,于倾斜工作台上固定安装有机械手;所述机械手沿工作台自上而下依次排列有自动进料部件、步进分轨部件、双测试件、自动分类部件和自动收料部件,工作台;其中步进分轨部件包括由下轨、精密加工轨和上轨组成的轨道,上轨、下轨固定相连,下轨于上轨一侧设有凹槽,凹槽中嵌接固定有精密加工轨,精密加工轨与上轨间对应形成有过料通道。
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