[实用新型]一种用于VXI总线数字测试系统的老化模块有效
| 申请号： | 201120523266.6 | 申请日： | 2011-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN202339398U | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 李杰;张东;蒋常斌 | 申请（专利权）人： | 北京自动测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/3181 | 分类号： | G01R31/3181 |
| 代理公司： | 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 | 代理人： | 陈曦;贾兴昌 |
| 地址： | 100088 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于VXI总线数字测试系统的老化模块，包括主控制器、配置存储器、多个老化测试模块、继电器矩阵和老化电阻。其中，主控制器一方面连接集成电路测试仪，另一方面分别连接配置存储器、继电器矩阵和各老化测试模块；配置存储器与主控制器连接，用于存储老化测试的配置程序；继电器矩阵一方面连接集成电路测试仪，另一方面连接老化电阻。本老化模块可以与各种VXI总线数字测试系统相互配合，自动完成相关数字测试系统的老化测试工作，配置灵活，操作方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 vxi 总线 数字 测试 系统 老化 模块 | ||
【主权项】：
一种用于VXI总线数字测试系统的老化模块，其特征在于：所述老化模块包括主控制器、配置存储器、多个老化测试模块、继电器矩阵和老化电阻；其中，所述主控制器一方面连接集成电路测试仪，另一方面分别连接所述配置存储器、所述继电器矩阵和各所述老化测试模块；所述配置存储器与所述主控制器连接，用于存储老化测试的配置程序；所述继电器矩阵一方面连接集成电路测试仪，另一方面连接所述老化电阻。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京自动测试技术研究所，未经北京自动测试技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201120523266.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
