[实用新型]一种检测探针卡试打位置的测试键有效
| 申请号： | 201120569728.8 | 申请日： | 2011-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN202533467U | 公开（公告）日： | 2012-11-14 |
| 发明（设计）人： | 王政烈;肖艳玲;夏洪旭 | 申请（专利权）人： | 和舰科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人： | 贺小明 |
| 地址： | 215123 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型提出一种检测探针卡试打位置的测试键，所述测试键设置有用于衡量探针卡试打位置的标尺。试打人员根据标尺标示出针痕位置清晰地判断并调整试打位置，避免了凭借试打人员的直觉试打，这样不仅降低了由于试打针痕异常导致的测试异常，还降低了试打人员分析异常的次数，晶片重测次数，提高了产能利用率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 探针 卡试打 位置 测试 | ||
【主权项】：
一种检测探针卡试打位置的测试键，其特征在于，所述测试键设置有用于衡量探针卡试打位置的标尺。
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