[发明专利]用于测量散射特性的装置、用于宝石的散射光的色彩测量装置、用于测量宝石的亮度的装置以及用于测量宝石的发光分布的装置

摘要

本发明提供一种用于测量散射体的性质的装置，自该散射体在当收到具有某一波长分布的电磁波时所产生的立体散射分布来测量该散射体的性质。在该装置里，待予测量的散射体是经放置在一样本平台上；该电磁波是自一以前述焦点作为其中心的假设性球形表面的至少任何一或更多方向上，或是一或更多连续方向上，照射至该散射体上；由该散射体所散射且反射离于该抛物形映镜或是投射到该抛物形屏幕上的散射波是由该成像装置成像如平面成像数据；并且由按此所获得的成像数据得到该散射体所产生的散射波的立体分布，借以从该分布结果测量出该散射体的性质。

主权项

一种用于测量散射体的性质的装置可自该散射体在当收到具有某一波长分布的电磁波时的立体镜散射分布测量出散射体的性质，其包含：一抛物形映镜或一抛物形屏幕；一样本平台，用于将该散射体放置在该抛物形映镜或抛物形屏幕的焦点上；一产生器，用于产生该电磁波；以及一成像装置，用于将散射波成像如平面影像，这些散射波是由该散射体在当收到来自该产生器的电磁波时所散射，并且接着所述电磁波反射离于该抛物形映镜或投射于该抛物形屏幕上，其中该待予测量的散射体系经放置在该样本平台上；其中该电磁波是自一以前述焦点作为其中心的假设性球形表面的至少任何一或更多方向上，或是一或更多连续方向上，照射于该散射体上；以及其中由该散射体所散射且反射离于该抛物形映镜或是投射到该抛物形屏幕上的散射波是由该成像装置成像如平面成像数据，并且其中由按此所获得的成像数据可得到该散射体所产生的散射波的立体镜分布，借以从该分布结果测量出该散射体的性质，以及其中所述散射波是小于该截面上一曲线的3pi/4(弪度量)的范围内所获得，而具有该焦点的假设性球形表面的中央轴线是位在其中央处。