[发明专利]在颗粒分析器中产生脉冲参数有效
| 申请号： | 201180012921.4 | 申请日： | 2011-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN102792147A | 公开（公告）日： | 2012-11-21 |
| 发明（设计）人： | 克里斯多佛·D·罗弗斯托姆;丹尼尔·N·福克斯;托马斯·L·思拉舍;大卫·C·尼克尔斯 | 申请（专利权）人： | 贝克曼考尔特公司 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14 |
| 代理公司： | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人： | 彭里 |
| 地址： | 美国佛*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供一种在颗粒分析器中为颗粒样品产生测量参数的方法。该方法包括，利用分别沿着探询区域的沿着安置的触发探询器和一个以上的次级探询器探询颗粒样品，基于对来自颗粒样品的第一颗粒的探询产生各个脉冲，基于触发脉冲确定初级脉冲检测窗口，基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素，确定搜索间隔以找到所述次级脉冲，基于对所述第一颗粒的所述探询，对于激光延迟变化动态地调整所述搜索间隔；识别所述调整的搜索间隔中的所述次级脉冲，和处理所述次级脉冲以确定所述次级脉冲的峰值。还提供相应的设备。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 分析器 产生 脉冲 参数 | ||
【主权项】：
一种在颗粒分析器中为颗粒样品产生测量参数的方法，其特征在于，包括：（a）利用分别沿着探询区域的长度安置的探询器来探询所述颗粒样品，所述探询器包含触发探询器和一个以上的次级探询器；（b）基于对来自所述颗粒样品的第一颗粒的所述探询，产生各个脉冲，其中，所述脉冲包含与所述触发探询器相对应的触发脉冲以及与所述次级探询器中的一个次级探询器相对应的次级脉冲；（c）基于所述触发脉冲确定初级脉冲检测窗口；（d）基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素，确定搜索间隔以找到所述次级脉冲；（e）基于对所述第一颗粒的所述探询，对于激光延迟变化动态地调整所述搜索间隔；（f）识别所述调整的搜索间隔中的所述次级脉冲；和（g）处理所述次级脉冲以确定所述次级脉冲的峰值。
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