[发明专利]集成电路管芯检测装置及方法无效
申请号: | 201180015688.5 | 申请日: | 2011-03-25 |
公开(公告)号: | CN102812443A | 公开(公告)日: | 2012-12-05 |
发明(设计)人: | 什拉凡·库马尔·巴斯卡拉尼 | 申请(专利权)人: | 超威半导体公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G01R31/3185;G06F11/267 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 李献忠 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 公开了一种包括形成多条管线的多个管线互连集成电路管芯的晶片。每条管线中的多个管芯连接以接收来自管线中的相邻管芯的扫描输出检测数据。位于多个管线互连IC管芯外的晶片级检测通路机构(TAM)收发机电路系统共用地连接至各条管线以并行地提供输入检测数据给多条管线。晶片级检测通路机构收发机电路系统还提供来自各条管线的输出检测结果以用计算机检测系统评估。在一实例中晶片级检测通路机构收发机电路系统为无线的,其无线接收将通过晶片上多条管线传递的检测数据且还包括发送来自各条管线的检测结果的无线发送电路系统。在晶片上时管线中的管芯与管线管芯检测互连路径相连接,管线管芯检测互连路径提供管线中多个管芯间的管线检测信息互连。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 管芯 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种晶片,包括:多个管线互连集成电路(IC)管芯,每条管线中的多个管芯连接以接收来自相邻管芯的扫描输出检测数据;晶片级检测通路机构(TAM)收发机电路系统,其位于所述多个管线互连IC管芯的外部,与IC管芯的各条管线可操作地连结以便以并行的方式将输入检测数据提供给多条管线并且提供来自各条管线的检测结果。
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