[发明专利]损耗剖面分析有效
| 申请号： | 201180030216.7 | 申请日： | 2011-05-03 |
| 公开（公告）号： | CN103004287A | 公开（公告）日： | 2013-03-27 |
| 发明（设计）人： | 平夏斯·艾恩齐格;艾兰·本-什穆尔;亚历山大·比尔钦斯基;阿米特·拉贝尔 | 申请（专利权）人： | 高知有限公司 |
| 主分类号： | H05B6/64 | 分类号： | H05B6/64 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 苗源;王漪 |
| 地址： | 百慕大*** | 国省代码： | 百慕大群岛;BM |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 在此披露了一种用于将电磁能施加到能量施加带中的物体上的设备和方法。至少一个处理器可被配置为使电磁能以多个电磁场场图被施加给该能量施加带中的该物体。该处理器可进一步被配置为针对该多个场图中的每一者而确定在该能量施加带耗散的功率量值。该处理器也可被配置为基于当该多个场图施加到该能量施加带时耗散的功率量值而确定该能量施加带的至少一部分上的能量吸收特性的空间分布。 | ||
| 搜索关键词： | 损耗 剖面 分析 | ||
【主权项】：
一种用于经由至少一个辐射元件将电磁能施加到能量施加带中的物体上的设备，该设备包括：至少一个处理器，该处理器被配置为：使得将电磁能以多个电磁场场图施加给该能量施加带中的该物体；对于该多个场图中的每一者，确定在该能量施加带中耗散的功率量值；以及基于当该多个场图施加到该能量施加带时耗散的功率量值而确定该能量施加带的至少一部分上的能量吸收特性的空间分布。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于高知有限公司，未经高知有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201180030216.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
