[发明专利]投影曝光装置有效
申请号: | 201180043551.0 | 申请日: | 2011-06-23 |
公开(公告)号: | CN103098171A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 中本裕见 | 申请(专利权)人: | 株式会社ORC制作所 |
主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种投影曝光装置,其具有遮光单元,该遮光单元使伴随基板的运入运出的遮光部件的安装和卸下的所需时间变短。投影曝光装置具有:投影光学系统,其将包含紫外线的光线照射在光掩模上,将通过了光掩模的光线投影在涂布了光致抗蚀剂的基板上;基板台,其载置基板;以及遮光单元,其遮盖基板的周边部而遮住光线。而且,遮光单元(80)具有:第1遮光部件和第2遮光部件(84、86),它们分别具有大致半圆形的开口部;以及移动单元(82、83),它们移动第1遮光部件和第2遮光部件,使两者相互接近或远离。因此,当第1遮光部件和第2遮光部件相互接近时,第1遮光部件和第2遮光部件形成环状,来遮盖基板(CB)的周边部。 | ||
搜索关键词: | 投影 曝光 装置 | ||
【主权项】:
一种投影曝光装置,其具有:投影光学系统,其将包含紫外线的光线照射在光掩模上,将通过了所述光掩模的光线投影到涂布了光致抗蚀剂的基板上;基板台,其载置所述基板;以及遮光单元,其遮盖所述基板的周边部而遮住所述光线,所述遮光单元具有:第1遮光部件和第2遮光部件,它们分别具有大致半圆形的开口部;以及移动单元,其移动所述第1遮光部件和第2遮光部件,使两者相互接近或远离,在所述第1遮光部件和第2遮光部件相互接近时,所述第1遮光部件和第2遮光部件形成环状而遮盖所述基板的周边部。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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