[发明专利]MS/MS型质谱分析装置及该装置用程序

摘要

本发明涉及使用MS/MS型质谱分析装置来进行多反应监测(Multiple Reaction Monitoring，MRM)时的产物离子的选择方法。对于某种前体离子，准备使如下的参数发生变化的多个产物离子扫描事件，所述参数是决定前体离子的开裂条件的参数。接着，将前体离子导入至撞池，并执行所述多个产物离子扫描事件，借此，获得与各产物离子扫描事件相对应的多个质谱。接着，(1)对所述多个质谱进行比较，选择与出现频率最高的质量峰值相当的离子作为产物离子，或者(2)选择如下的离子作为产物离子，所述离子是对所述多个质谱进行积分时，积分所得的信号强度最大的离子。借此，能够选择相对于某种前体离子的最佳的产物离子。

主权项

一种MS/MS型质谱分析装置，包括：第一质量分离部，挑选各种离子中的具有特定质荷比的离子作为前体离子；离子开裂部，使所述前体离子开裂；第二质量分离部，挑选因开裂而产生的各种产物离子中的具有特定质荷比的离子；检测器，对所述第二质量分离部所挑选的产物离子进行检测；以及控制部，对所述第一质量分离部、所述离子开裂部、所述第二质量分离部、及所述检测器进行控制并执行分析，对因执行分析而产生的数据进行解析，所述MS/MS型质谱分析装置的特征在于：所述控制部包括a)事件准备部，针对某种成分的前体离子，准备使离子开裂部及第二质量分离部中的至少一个部分的条件发生变化的产物离子扫描事件、及不使条件发生变化的产物离子扫描事件中的多个产物离子扫描事件；b)事件执行部，执行已准备的多个产物离子扫描事件；以及c)检测部，从已执行的全部的产物离子扫描事件所产生的全部的质谱中，检测出出现频率最高的质量峰值。