[发明专利]自动分析装置有效
| 申请号： | 201180053411.1 | 申请日： | 2011-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN103189750A | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 神原久美子;三村智宪 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G01N35/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 刘建 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种自动分析装置，其能够恰当地设定反映出因试剂批次而不同的试剂的特性的分析参数。在自动分析装置的存储部存储有由固定参数(37)与变动参数(38)构成的分析参数(35)，固定参数(37)包含成为试样测定的轴的试剂分注量、检体分注量、测定波长等，从显示在试剂瓶(36)的项目编码与瓶编码中选择使用参数。变动参数(38)含有与检体测定结果的检查相关的直线性检查值、前带检查值、反应极限吸光度、技术极限、第一标准液吸光度、差别允许吸光度等。变动参数(38)具有多个版本，自动分析装置的控制部读取试剂瓶的条形码信息，并以项目编码、瓶编码、试剂的批次信息为索引采取对应的版本的变动参数。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种自动分析装置，其将试剂与试样混合并对试样进行分析，其特征在于，其具备：存储单元，该存储单元针对所使用的试剂的试剂信息，存储由分析项目决定的固定参数信息和因试剂的制造批次而各异且是评价试样的测定结果所必需的变动参数；以及控制部，该控制部使用存储于上述存储单元的固定参数信息以及变动参数信息，对试样与试剂的混合以及试样的分析动作进行控制。
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