[发明专利]质量分析装置及质量分析方法有效
| 申请号： | 201180054884.3 | 申请日： | 2011-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN103222031A | 公开（公告）日： | 2013-07-24 |
| 发明（设计）人： | 安田博幸;吉冈信二 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | H01J49/42 | 分类号： | H01J49/42;G01N27/62;H01J49/06;H01J49/40 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 齐秀凤 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种质量分析装置及质量分析方法，该装置具备碰撞室(9)，在线形多极电极(a、b)间叠加施加交流电压(RF3)与直流电压(DC31)来生成碎片离子，对按每一线形多极电极(a、b)分割的前级电极(7a、7b)与后级电极(8a、8b)间施加直流电压(DC32)使碎片离子加速；质量分析部(11)，根据质荷比对碎片离子进行质量分离；控制部(14)，按与碎片离子的质荷比无关地使碰撞室(9)内的碎片离子的速度相等的方式，基于由质量分析部(11)选择的碎片离子的质荷比决定直流电压(DC32)。由质量分析部(11)选择的质荷比越大，控制部(14)使第2直流电压(DC32)越大。由此即使为解决串扰而在分子离子的行进方向生成直流电场也能拓宽质量窗口。 | ||
| 搜索关键词： | 质量 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种质量分析装置，其特征在于，具备：碰撞室，其具有线形多极电极，对所述线形多极电极间叠加施加碰撞交流电压与第1直流电压，使分子离子与中性分子发生碰撞，进行所述分子离子的碰撞引发离解来生成碎片离子，并在按照每一所述线形多极电极而分割的前级电极与后级电极之间施加第2直流电压，使所述碎片离子在沿着所述线形多极电极的方向上进行加速；质量分析部，其根据质荷比，对在所述碰撞室中加速后的所述碎片离子进行质量分离；和控制部，其按照与所述碎片离子的质荷比无关地使所述碰撞室内的所述碎片离子的速度成为相等的方式，基于由所述质量分析部选择的所述碎片离子的质荷比来决定所述第2直流电压。
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