[发明专利]光学传感器以及图像形成设备有效
| 申请号： | 201180056270.9 | 申请日： | 2011-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN103221803A | 公开（公告）日： | 2013-07-24 |
| 发明（设计）人： | 大场义浩;菅原悟;石井稔浩;星文和 | 申请（专利权）人： | 株式会社理光 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47;G01B11/06;G01B11/30;G01N21/21;G01N21/57;G03G15/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 郭定辉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 在光学传感器中，光发射系统将第一偏振方向上的线性偏振的辐射光从关于具有纸张形状的目标对象的表面的法线方向倾斜的入射方向向该表面发射。第一光检测系统包括在镜面反射光的第一光路上布置的第一光检测器，所述镜面反射光从光发射系统发射并且从目标对象镜面反射。第二光检测系统包括在从目标对象上的入射平面漫反射的漫反射光的第二光路上布置的第二光检测器。所述第二光检测器接收由通过与第一偏振方向垂直的第二偏振方向的线性偏振的光学元件来通过的第二光。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 传感器 以及 图像 形成 设备 | ||
【主权项】：
一种光学传感器，包括：光发射系统，配置为将第一偏振方向上的线性偏振的辐射光从关于具有纸张形状的目标对象的表面的法线方向倾斜的入射方向向该表面发射；第一光检测系统，配置为包括在镜面反射光的第一光路上布置的第一光检测器，所述镜面反射光从光发射系统发射并且从目标对象镜面反射；以及第二光检测系统，配置为包括在从目标对象上的入射平面漫反射的漫反射光的第二光路上布置的第二光检测器，所述第二光检测器接收由通过与第一偏振方向垂直的第二偏振方向的线性偏振分量的光学元件来通过的第二光。
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