[发明专利]用于测量物体的光学特性的设备无效
| 申请号： | 201180067695.X | 申请日： | 2011-02-15 |
| 公开（公告）号： | CN103415243A | 公开（公告）日： | 2013-11-27 |
| 发明（设计）人： | 伯恩德特·沃姆;斯蒂芬·施密特;克劳迪娅·格舍博特;克里斯托夫·德尼茨基 | 申请（专利权）人： | 威孚莱有限公司 |
| 主分类号： | A61B3/12 | 分类号： | A61B3/12;A61B3/10;A61B3/103;A61B3/18 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 | 代理人： | 武晨燕;徐川 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种用于测量物体（具体地，例如眼睛）的光学特性的设备包括用于检查由所述物体产生的波前像差的波前传感器和光学相干层析装置，使得所述物体的波前像差和结构能够被检查。为此，宽带激光器辐射源（12）被提供用于OCT。参考光束使用回射器（32）被产生，并且分束器（18）用作既用于波前确定又用于OCT的光学部件。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 物体 光学 特性 设备 | ||
【主权项】：
一种用于测量物体（10）的光学特性的设备，包括：波前传感器，所述波前传感器具有辐射源（12）、用于将来自所述辐射源（12）的辐射（25）以所述辐射透射所述物体的方式导向到所述物体（10）上的装置（16、18）以及用于检测来自所述物体的辐射以便检测出由所述物体产生的波前像差的检测器（30；50），其特征在于，光学相干层析装置，其具有辐射源（12）、用于将辐射测量臂（25）从所述辐射源导向到所述物体上的装置（18）以及用于检测从所述物体反射的辐射（26；58）的检测器（30；50）。
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