[发明专利]非易失性半导体存储系统有效
申请号: | 201180071483.9 | 申请日: | 2011-09-30 |
公开(公告)号: | CN103597461A | 公开(公告)日: | 2014-02-19 |
发明(设计)人: | 石川笃;薗田浩二;上原刚;小川纯司;小关英通 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | G06F13/16 | 分类号: | G06F13/16;G06F12/00;G06F12/06 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 陈伟;王娟娟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 非易失性半导体存储系统具有:多个非易失性半导体存储介质;具有与多个非易失性半导体存储介质连接的介质接口组(1个以上的接口设备)的控制电路;多个开关。介质接口组和多个开关通过数据总线而连接,各开关和各2个以上的非易失性芯片通过数据总线而连接。开关构成为,切换与介质接口组连接的数据总线和与连接在该开关上的多个非易失性芯片中的任意一个连接的数据总线之间的连接。控制电路将写入对象的数据分割成多个数据要素,通过控制多个开关来切换连接,将多个数据要素分散地发送到多个非易失性芯片。 | ||
搜索关键词: | 非易失性 半导体 存储系统 | ||
【主权项】:
一种非易失性半导体存储系统,其特征在于,具有:多个非易失性半导体存储介质;具有介质接口组的控制电路,所述介质接口组为与所述多个非易失性半导体存储介质连接的1个以上的接口设备;和多个开关,各非易失性半导体存储介质具有多个非易失性芯片,所述介质接口组和所述多个开关通过数据总线而连接,各开关和各2个以上的非易失性芯片通过数据总线而连接,所述开关构成为,切换与所述介质接口组连接的数据总线和与连接在该开关上的多个非易失性芯片中的任意一个连接的数据总线之间的连接,所述控制电路将写入对象的数据分成多个数据要素,通过控制所述多个开关来切换连接,并将所述多个数据要素分散地发送给多个非易失性芯片。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立制作所,未经株式会社日立制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201180071483.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。