[发明专利]用于确定光学补片的前表面和后表面的方法有效
申请号: | 201180073371.7 | 申请日: | 2011-09-06 |
公开(公告)号: | CN103797402A | 公开(公告)日: | 2014-05-14 |
发明(设计)人: | 保利娜·可拉斯 | 申请(专利权)人: | 依视路国际集团(光学总公司) |
主分类号: | G02C7/02 | 分类号: | G02C7/02;G02C7/08 |
代理公司: | 上海天协和诚知识产权代理事务所 31216 | 代理人: | 张恒康 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | 将光学补片分配给多个处方以便减少所涉及的补片表面的总数。通过根据处方节段对被组合来形成光学补片的前补片表面(S1)和后补片表面(S2)中的至少一个进行变化来产生这些处方。这些前补片表面(S1)为伪球面形状,并且这些后补片表面(S2)由一个叠加在伪球面基础形状上的菲涅耳结构组成。 | ||
搜索关键词: | 用于 确定 光学 表面 方法 | ||
【主权项】:
用于确定一系列光学补片的前补片表面(S1)集合和后补片表面(S2)集合的方法,通过将这些前补片表面之一与这些后补片表面之一组合来获得每个光学补片,每个前补片表面为伪球面形状,并且每个后补片表面由一个叠加在伪球面基础形状(BS)上的菲涅耳结构(FS)组成,该系列光学补片包含分别针对多个处方的至少一个光学补片,通过将出自一个光学倍率值集合的一个光学倍率值与出自一个散光值集合的一个散光值组合而获得每个处方,该方法包括以下步骤:/1/为这些光学补片提供至少一个规格条件;/2/对于一个开始处方而言,确定一个第一后补片表面和一个第一前补片表面,从而使得通过将所述第一后补片表面和所述第一前补片表面组合而获得的光学补片满足该规格条件;/3/对于一个包含该开始处方的处方开始节段内的每个处方而言,并且除了所述开始处方,计算一个次级前补片表面,从而使得通过将该第一后补片表面与该次级前补片表面组合来获得的光学测试补片与所述处方相对应;/4/在该处方开始节段内选择一个初级处方子节段,从而使得在步骤/3/中获得的并且与所述初级处方子节段内的处方相对应的所有光学测试补片满足该规格条件;/5/在该初级处方子节段内选择一个次级处方子节段,从而使得所有处方包含在通过基于所述次级处方子节段的拼贴产生的至少一个处方节段内,其中,通过对该次级处方子节段(SG1)进行平移来获得每个处方节段(SG2‑SG11),该次级处方子节段(SG1)被用作一个带有光学倍率和散光坐标的平面内的一个拼贴;/6/对于通过所述拼贴产生的每个处方节段(SG2‑SG11)而言,并且对于相对于所述处方节段在一个与该次级处方子节段(SG1)内的开始处方的位置相似的位置上的处方而言,确定一个具有菲涅耳结构的次级后补片表面,从而使得通过将所述次级后补片表面与该第一前补片表面组合来获得的另一个光学补片与该处方相对应;以及/7/用以下方式将一个后补片表面(S2)与一个前补片表面(S1)分配给每个处方:/7a/对于该开始处方而言:在步骤/2/中确定的该第一后补片表面和该第一前补片表面;/7b/当该处方在该次级处方子节段(SG1)内而非该开始处方内时:‑在步骤/2/中确定该第一后补片表面;以及‑针对所述处方,在步骤/3/中计算该次级前补片表面;/7c/当该处方在一个通过该拼贴产生的处方节段(SG2‑SG11)内而非该次级处方子节段内时:‑针对所述处方节段,在步骤/6/中确定该次级后补片表面;以及‑针对相对于该处方节段在与该当前处方相似的位置上的次级处方子节段内的处方,该前补片表面与在子步骤/7a/或/7b/中分配的那个相同。
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