[发明专利]质量分析数据解析方法以及装置

摘要

当估计原物质已知的结构的一部分由于代谢等发生变化而产生的未知物质的结构式时，用子结构的脱离和其它子结构的附加这两个阶段来考虑结构变化。首先，除了收集未知物质的MSⁿ谱和原物质的结构式作为已知信息以外，还收集附加子结构来作为已知信息(S1)。基于根据MSⁿ谱获得的未知物质的质量和附加子结构的质量等来估计子结构从原物质脱离的时刻的结构式(S2)，通过将根据该结构式推测的子结构和附加子结构的组合的质量与MSⁿ谱的各峰值质量进行比较，来估计各产物离子的结构式(S3-S4)。对通过裂解能够生成这些多个产物离子结构式候选的结构进行估计，由此求出未知物质的结构式(S5)。由此，即使未知物质没有被收录于鉴定用数据库、结构变化图案不清楚，也能够以高可靠性估计未知物质的结构式。

主权项

一种质量分析数据解析方法，基于对通过使源自未知物质的前体离子发生一级或多级的裂解而生成的产物离子进行质量分析而得到的MSⁿ谱，来估计上述未知物质的结构，其中，该未知物质是由结构已知的已知物质发生局部的结构变化而产生的，n为1以上的整数，该质量分析数据解析方法的特征在于，包括以下步骤：a)脱离后结构估计步骤，基于预先提供的上述已知物质的结构式信息、同样预先提供的随着上述结构变化而能够对上述已知物质附加的附加子结构的信息以及根据上述未知物质所对应的质谱获得的源自该未知物质的前体离子的质量信息，来估计随着上述结构变化而未知的脱离子结构从上述已知物质脱离后的脱离后结构式；b)产物离子结构估计步骤，针对在该脱离后结构估计步骤中列举出的脱离后结构式候选，对使从以该脱离后结构式候选的结构式表示的结构提取出的骨干子结构和上述附加子结构组合时的质量、与根据上述未知物质所对应的MSⁿ谱获得的产物离子的质量的一致性进行判断，由此估计各产物离子的结构式并列举产物离子结构式候选；以及c)未知物质结构估计步骤，基于通过该产物离子结构估计步骤估计出的多个产物离子所对应的产物离子结构式候选，来搜索能够通过裂解生成这些结构式候选的结构式，由此估计未知物质的结构式。