[发明专利]分析光纤用高纯四氯化硅产品金属元素含量时的取样方法无效
| 申请号： | 201210010910.9 | 申请日： | 2012-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN102539197A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 何寿林;罗全安 | 申请（专利权）人： | 武汉新硅科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/10 | 分类号： | G01N1/10;G01N1/34 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 邓寅杰 |
| 地址： | 436070 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及高纯四氯化硅产品的取样方法，具体涉及一种分析光纤用高纯四氯化硅产品金属元素含量时的取样方法,该方法依次包含清洗取样瓶、烘干取样瓶、取样瓶取样、金属元素杂质富集四个步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 光纤 高纯 氯化 产品 金属元素 含量 取样 方法 | ||
【主权项】：
分析光纤用高纯四氯化硅产品金属元素含量时的取样方法，其特征在于，该方法依次包含清洗取样瓶、烘干取样瓶、取样瓶取样、金属元素杂质富集四个步骤。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉新硅科技有限公司，未经武汉新硅科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210010910.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于对存储器进行配置的系统和方法
- 下一篇：光伏电池板最大功率点调控方法
