[发明专利]一种射频指标的测试系统有效
| 申请号： | 201210011328.4 | 申请日： | 2012-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN102571239A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 成军平;田宏;余飞;张天鹏;刘彬;张志锋;邵立群 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 李健;龙洪 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供的射频指标的测试系统，包括多工器、射频单元(RRU)、测试仪和信号源，其中，所述多工器的公共端口与RRU的一天线端口连接，所述多工器中的一个或多个带通滤波器接口通过第一衰减器连接到测试仪，用于测试下行信号射频指标；所述信号源的第一输出口直接与多工器中的第一带阻滤波器接口连接，用于输出上行干扰信号，所述信号源的第二输出口通过第二衰减器与多工器中的第二带阻滤波器接口连接，用于输出上行有用信号，进而测试上行信号射频指标。通过本发明能够实现上下行指标同时测试，可以解决TX额定功率下进行block指标测试、排除测试环境对RRU性能的影响以及提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 指标 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种射频指标的测试系统，包括：多工器、射频单元(RRU)、测试仪和信号源，其中，所述多工器的公共端口与RRU的一天线端口连接，所述多工器中的一个或多个带通滤波器接口通过第一衰减器连接到测试仪，用于测试下行信号射频指标；所述信号源的第一输出口直接与多工器中的第一带阻滤波器接口连接，用于输出上行干扰信号，所述信号源的第二输出口通过第二衰减器与多工器中的第二带阻滤波器接口连接，用于输出上行有用信号，进而测试上行信号射频指标。
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