[发明专利]具有时域数据共同呈现的测试和测量仪器有效
申请号: | 201210018582.7 | 申请日: | 2012-01-20 |
公开(公告)号: | CN102621365B | 公开(公告)日: | 2017-04-19 |
发明(设计)人: | K.P.多比恩斯;K.A.恩格霍姆;A.M.伯格西克;S.C.赫林;G.J.瓦尔多 | 申请(专利权)人: | 特克特朗尼克公司 |
主分类号: | G01R13/02 | 分类号: | G01R13/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 刘春元,卢江 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及具有时域数据共同呈现的测试和测量仪器。用于生成基于IQ的时域波形信息并且通过用户接口在共同轴上呈现基于IQ的时域波形信息连同其他时域波形的测试和测量仪器与方法。测试和测量仪器可以包括例如用于接收受测电信号的一个或多个输入端子、用于数字化受测信号的模数转换器(ADC)、用于从数字化信号产生I(同相)和Q(正交)基带分量信息的数字下变频器、被配置为存储IQ基带分量信息的存储器、用户接口和控制器。控制器可以被配置为使用IQ基带分量信息生成基于IQ的时域波形,并且通过用户接口在共同轴上呈现基于IQ的时域波形和第二时域波形。 | ||
搜索关键词: | 具有 时域 数据 共同 呈现 测试 测量 仪器 | ||
【主权项】:
一种测试和测量仪器,包括:一个或多个输入端子,用于接收受测电信号;一个或多个模数转换器(ADC),用于数字化受测电信号;数字下变频器,用于从数字化信号产生IQ基带分量信息;存储器,被配置为存储IQ基带分量信息;用户接口;以及控制器,被配置为:使用所述IQ基带分量信息生成第一基于IQ的时域波形;以及通过所述用户接口在共同轴上呈现所述第一基于IQ的时域波形和与所述第一基于IQ的时域波形不同的形式的第二时域波形。
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