[发明专利]用于对准或重叠的标记结构,限定它的掩模图案及使用该掩模图案的光刻投影装置无效
申请号: | 201210020887.1 | 申请日: | 2004-07-12 |
公开(公告)号: | CN102520594A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
发明(设计)人: | J·M·芬德斯;M·杜萨;R·J·F·范哈伦;L·A·C·S·科里纳;E·H·J·亨德里克西;G·范登伯赫;A·H·M·范德霍夫 | 申请(专利权)人: | ASML荷兰有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G03F9/00;G03F1/42 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 吴敬莲 |
地址: | 荷兰维*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 用于对准或重叠的标记结构,限定它的掩模图案及使用该掩模图案的光刻投影装置在光刻投影中用于将标记结构成像在基底上的掩模图案,该标记结构在使用中布置成用于确定光学对准或重叠,该掩模图案包括组成部分以限定标记结构,该组成部分被分成多个分段元件(EL;ML),每个分段元件大体上具有器件特征的尺寸,该掩模图案包括用于每个分段元件(EL;ML)的部段形状,其特征在于用于标记结构的掩模图案包括至少一个位于部段形状的临界部分的辅助特征(EL_sub),用于平衡在光刻投影中在临界部分处产生的平衡光学像差或者光学限制,该至少一个辅助特征(EL_sub)具有大体上小于光刻投影的分辨率的尺寸。 | ||
搜索关键词: | 用于 对准 重叠 标记 结构 限定 图案 使用 光刻 投影 装置 | ||
【主权项】:
在光刻投影中用于将标记结构成像在基底上的掩模图案,该标记结构在使用中布置成用于确定光学对准或重叠,该掩模图案包括组成部分以限定标记结构,该组成部分被分成多个分段元件(EL;ML),每个分段元件大体上具有器件特征的尺寸,该掩模图案包括用于每个分段元件(EL;ML)的部段形状,其特征在于用于标记结构的掩模图案包括至少一个位于部段形状的临界部分的辅助特征(EL_sub),用于平衡在光刻投影中在临界部分处产生的光学像差或者光学限制,该至少一个辅助特征(EL_sub)具有大体上小于光刻投影的分辨率的尺寸。
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