[发明专利]一种用于防止封装样品被静电损伤的保护装置无效
| 申请号： | 201210047388.1 | 申请日： | 2012-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN102593106A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 尹彬锋;王炯;赵敏 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | H01L23/60 | 分类号： | H01L23/60 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 王敏杰 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明一种用于防止封装样品被静电损伤的保护装置，包括：包括一套盖，其中，所述套盖中心设有开孔，所述套盖两侧向下翻折形成套脚，所述套盖用于覆盖于封装基座的上表面。通过本发明一种用于防止封装样品被静电损伤的保护装置，有效地抑制被测样品中静电的产生；同时能够对在封装过程中所产生的静电安全地引出封装基板外，从而使封装中的被测样品可免于静电放电的破坏，以提高封装产品的良好率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 防止 封装 样品 静电 损伤 保护装置 | ||
【主权项】：
一种用于防止封装样品被静电损伤的保护装置，包括一套盖，其特征在于，所述套盖中心设有开孔，所述套盖两侧向下翻折形成套脚，所述套盖用于覆盖于封装基座的上表面。
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