[发明专利]一种电子元件移动测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 201210051504.7 申请日: 2012-03-01
公开(公告)号: CN102735958A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 陈伯榕 申请(专利权)人: 涌德电子股份有限公司;东莞建冠塑胶电子有限公司;中江涌德电子有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04
代理公司: 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 代理人: 张明
地址: 中国台湾桃园县桃园市(330)同*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种电子元件移动测试装置以及应用该电子元件移动测试装置进行电子元件移动测试的方法,测试装置包括承载治具和检测仪器,承载治具固设有导电体;测试方法包括下列步骤:一,电子元件插接于导电体的元件连接端;二,电子元件与检测仪器的元件接触部电连接,导电体与检测仪器的仪器接触部电连接,形成一回路,进行测试;三,完成测试后,将电子元件和导电体分别与检测仪器的元件接触部和仪器接触部断开;四,将插接有电子元件的承载治具移动到下一个检测仪器的工作站;五,将电子元件与下一个检测仪器的元件接触部电连接,导电体与该检测仪器的仪器接触部电连接,形成一回路,进行测试;六,重复步骤二至步骤五,直至完成所有测试。
搜索关键词: 一种 电子元件 移动 测试 装置 方法
【主权项】:
一种电子元件移动测试装置,其特征在于:包括承载治具和检测仪器,所述承载治具包括导电体;所述导电体包括用于连接被测的电子元件的元件连接端,用于连接所述检测仪器的仪器连接端以及用于连接所述元件连接端和所述仪器连接端的连接部;所述检测仪器设有用于触接所述电子元件的元件接触部和用于触接所述仪器连接端的仪器接触部;所述电子元件、所述导电体和所述检测仪器依次连接构成测试回路。
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