[发明专利]半导体元件及其制造方法及半导体封装结构有效
申请号: | 201210064732.8 | 申请日: | 2012-03-13 |
公开(公告)号: | CN102543926A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 郑斌宏;洪志斌 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/485 | 分类号: | H01L23/485;H01L23/31;H01L21/60;H01L21/56 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陆勍 |
地址: | 中国台湾高雄*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明关于一种半导体元件及其制造方法及半导体封装结构。该半导体元件包括一半导体基板、至少一金属柱、一第一聚合物层及一第二聚合物层。该第一聚合物层包覆这些该金属柱的下半部,因此可降低这些该金属柱断裂及倒塌的风险。此外,该第一聚合物层及该第二聚合物层分别位于该半导体基板的二侧,可避免该半导体基板发生翘曲。 | ||
搜索关键词: | 半导体 元件 及其 制造 方法 封装 结构 | ||
【主权项】:
一种半导体元件,包括:一半导体基板,具有一第一表面及一第二表面;一布线层,位于该半导体基板的第一表面;至少一导通柱,贯穿该半导体基板,且电性连接至该布线层;一钝化层,覆盖该布线层且显露部分该布线层;至少一金属柱,邻接该半导体基板的第一表面,且电性连接至该显露的部分该布线层;一第一聚合物层,覆盖该钝化层,且该至少一金属柱凸出于该第一聚合物层之外;及一第二聚合物层,邻接该半导体基板的第二表面。
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