[发明专利]使用光波导的测定系统有效

专利信息
申请号: 201210090898.7 申请日: 2012-03-30
公开(公告)号: CN102735832A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 东野一郎;葛西晋吾;和田嵩辉;绳田功;平川雅章;高濑智裕;大宫可容子;山内健资;中山忠弘;新田勇 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G01N33/543 分类号: G01N33/543;G01N21/31
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 徐殿军
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 根据一个实施方式,提供一种使用了光波导的测定系统。测定系统具有光波导、磁性微粒、磁场施加部、光源及受光元件。光波导具有感应区,该感应区固定化了和测定对象物质特异性结合的第1物质。各个磁性微粒固定化了和上述测定对象物质特异性结合的第2物质。磁场施加部生成使上述磁性微粒移动的磁场。光源使光入射到上述光波导。受光元件接收从上述光波导出射的光。
搜索关键词: 使用 波导 测定 系统
【主权项】:
一种测定系统,使用了光波导,其特征为,具备:光波导,具有固定化了与测定对象物质特异性结合的第1物质的感应区;磁性微粒,固定化了与上述测定对象物质特异性结合的第2物质;磁场施加部,生成使上述磁性微粒移动的磁场;光源,使光入射到上述光波导;受光元件,接收从上述光波导出射的光。
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