[发明专利]测量元素点的图形化处理系统及方法

摘要

一种测量元素点的图形化处理系统及方法，包括：获取从待测工件上采集的测量元素点的坐标信息；利用所述测量元素点的坐标信息进行元素拟合，得到拟合偏差值最小的拟合元素以及该拟合元素的参数；计算该拟合元素上各测量元素点的新向量；绘制拟合元素及该拟合元素上的测量元素点，并显示所绘制的拟合元素的参数调整窗口；当参数调整窗口中的测量元素点的个数有更新时，重新分布所述的拟合元素中所包含的测量元素点，并记录为新测量元素点；计算拟合元素上新测量元素点下行后的坐标；在所绘制的拟合元素中绘制下行后的新测量元素点。利用本发明能够更加方便以及图形化地处理测量元素点。

主权项

一种测量元素点的图形化处理方法，其特征在于，该方法包括：获取步骤：获取并记录从待测工件上采集的测量元素点的坐标信息；拟合步骤：利用所记录的测量元素点的坐标信息进行元素拟合，得到拟合偏差值最小的拟合元素以及该拟合元素的参数；第一计算步骤：根据所述测量元素点的坐标信息及该拟合元素的参数，计算该拟合元素上各测量元素点的新向量；第一绘制步骤：根据该拟合元素的参数、测量元素点的坐标及新向量，绘制所述拟合元素及该拟合元素上的测量元素点，并显示所绘制的拟合元素的参数调整窗口；分布步骤：当参数调整窗口中的测量元素点的个数有更新时，重新分布所述拟合元素所包含的测量元素点，并记为新测量元素点；第二计算步骤：根据预设的下行深度计算所述新测量元素点下行后的坐标；第二绘制步骤：删除掉该拟合元素上的测量元素点，并利用所计算的新测量元素点下行后的坐标，在上述绘制出的拟合元素中绘制该下行后的新测量元素点。