[发明专利]航天电磁继电器的贮存性能测试系统及测试方法

摘要

航天电磁继电器的贮存性能测试系统及测试方法，属于电磁继电器性能测试技术领域。它解决了现有航天电磁继电器测试仪不能实时检测航天电磁继电器在加速退化过程中性能参数的问题。它包括恒温箱、测继电器切换电路、接触电阻测试仪、时间参数测试仪、下位机和上位机，待测继电器切换电路由多个切换单元组成；测试方法为下位机根据上位机的控制指令，控制每个恒温箱达到预设定的温度和湿度，然后停止控制温度和湿度，测电磁继电器逐一与接触电阻测试仪和时间参数测试仪连接，通过时间参数测试仪控制待测电磁继电器动作，同时采集相关参数，并通过接触电阻测试仪采集该待测电磁继电器的开关的接触电阻。本发明用于测试航天电磁继电器的贮存性能。

主权项

一种航天电磁继电器的贮存性能测试系统，它包括多个恒温箱(1)，其特征在于：它还包括待测继电器切换电路(2)、接触电阻测试仪(3)、时间参数测试仪(4)、下位机(5)和上位机(6)，所述待测继电器切换电路(2)由多个切换单元(2‑1)组成，所述切换单元(2‑1)的个数与恒温箱(1)的个数相同，每个恒温箱(1)内设置一组待测电磁继电器，每个恒温箱(1)内的多个待测电磁继电器由一个切换单元(2‑1)轮流控制依次与接触电阻测试仪(3)和时间参数测试仪(4)连接，接触电阻测试仪(3)用于测试与其连接的待测电磁继电器的开关的接触电阻，时间参数测试仪(4)用于测试与其连接的待测电磁继电器的吸合时间、释放时间、吸合弹跳时间、释放弹跳时间、超程时间、吸合稳定时间和释放稳定时间；下位机(5)用于控制每个恒温箱(1)中的温度和湿度，还用于控制每个切换单元(2‑1)的切换状态，还用于采集接触电阻测试仪(3)和时间参数测试仪(4)获得的测试数据，还用于将采集获得的测试数据传递给上位机(6)，上位机(6)用于发送控制信息给下位机(5)，并将接收到的来自下位机(5)的参数进行统计；所述控制信息包括预设参数，所述参数为每个恒温箱(1)中待测电磁继电器的数量、线圈阻值和贮存时间，恒温箱(1)内的温度和湿度。