[发明专利]投影装置及投影方法有效
申请号: | 201210148809.X | 申请日: | 2012-03-28 |
公开(公告)号: | CN102722076A | 公开(公告)日: | 2012-10-10 |
发明(设计)人: | 柴崎卫;增田弘树 | 申请(专利权)人: | 卡西欧计算机株式会社 |
主分类号: | G03B21/20 | 分类号: | G03B21/20;H04N9/31 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 黄剑锋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种投影装置,具备:发光波长不同的多种类的半导体发光元件;输入图像信号的输入部;光学像形成部,使用使所述半导体发光元件发光而得到的光源光,形成与所述输入部输入的图像信号相应的光学像;投影部,将由所述光学像形成部形成的光学像向投影对象进行投影;温度检测部,针对所述半导体发光元件,按种类检测发光时的温度;测定部,针对所述半导体发光元件,按种类测定发光时的光的强度;以及发光控制部,使用所述温度检测部的检测结果,修正所述测定部的测定结果,并基于被修正后的所述测定结果,控制每个所述半导体发光元件的发光强度。 | ||
搜索关键词: | 投影 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种投影装置,其特征在于,具备:发光波长不同的多种半导体发光元件;输入部,输入图像信号;光学像形成部,使用使所述半导体发光元件发光而得到的光源光,形成与所述输入部输入的图像信号相应的光学像;投影部,将由所述光学像形成部形成的光学像向投影对象进行投影;温度检测部,针对所述半导体发光元件,按种类检测发光时的温度;测定部,针对所述半导体发光元件,按种类测定发光时的光的强度;以及发光控制部,使用所述温度检测部的检测结果,对所述测定部的测定结果进行修正,并基于修正后的所述测定结果,控制每个所述半导体发光元件的发光强度。
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