[发明专利]带缺陷的测试构件用于分析工程构件的方法、系统和装置有效
| 申请号： | 201210180339.5 | 申请日： | 2012-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN102809497B | 公开（公告）日： | 2016-11-30 |
| 发明（设计）人： | C.W.罗斯;J.B.小迪顿 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N33/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 肖日松;杨楷 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及用于产出构件的分析的具有设计缺陷的工程构件的制造。公开了具有设计缺陷的工程构件(60,100)和具有设计缺陷的工程构件(60,100)用来评估产出构件的使用。制造具有已知缺陷的测试构件(70,300)。该已知缺陷是被故意地包括在测试构件(70,300)中的瑕疵。然后分析测试构件，以获得缺陷的测试轮廓(40)。另外，分析待测试的工程构件(60,100)，以获得产出轮廓(40)。将该产出轮廓(40)与测试轮廓(40)比较，以确定工程构件(60,100)是否具有与已知缺陷对应的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 测试 构件 用于 分析 工程 方法 系统 装置 | ||
【主权项】：
一种用于分析工程构件(60，100)的方法，包括：分析所述工程构件(60，100)，以获得产出轮廓；制造具有已知缺陷的测试构件(70，300)，所述已知缺陷是被故意地包括在所述测试构件(70，300)中的瑕疵；分析所述测试构件(70，300)，以获得所述缺陷的测试轮廓；以及将所述产出轮廓与所述测试轮廓比较，以确定所述工程构件(60，100)是否具有与所述已知缺陷对应的缺陷。
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