[发明专利]空间结构的干涉检查方法无效
| 申请号： | 201210182973.2 | 申请日： | 2012-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN103455649A | 公开（公告）日： | 2013-12-18 |
| 发明（设计）人： | 倪崇胜;杨俊英;魏智斌;曹祥錞 | 申请（专利权）人： | 英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 臧建明 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种空间结构的干涉检查方法，该方法包括以下步骤。取得电路基板，其中电路基板已设定有第一限制高度，且电路基板中部分的多个坐标区域已分别设定多个第二限制高度，其中第二限制高度小于等于第一限制高度。依据坐标区域的第二限制高度以及第一限制高度以建立电路基板的限高区结构(Keep-out area)。依据限高区结构比对一基板置入空间中各个坐标所对应的高度，模拟并判断电路基板在置于所述基板置入空间时是否造成冲突。借此，使用者可快速检查电路基板与基板置入空间之间是否产生干涉、是否造成空间冲突。 | ||
| 搜索关键词： | 空间结构 干涉 检查 方法 | ||
【主权项】：
一种空间结构的干涉检查方法，其特征在于，包括：取得一电路基板，其中该电路基板已设定有一第一限制高度，且该电路基板中部分的多个坐标区域已分别设定多个第二限制高度，其中该些第二限制高度小于等于该第一限制高度；依据该些坐标区域的该些第二限制高度以及该第一限制高度以建立该电路基板的一限高区结构；依据该限高区结构比对一基板置入空间中各个坐标所对应的高度，模拟并判断该电路基板在置于该基板置入空间时是否造成冲突。
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