[发明专利]阵列测试装置有效
| 申请号： | 201210184039.4 | 申请日： | 2012-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN103093715B | 公开（公告）日： | 2017-08-22 |
| 发明（设计）人： | 郑东贤;潘俊浩 | 申请（专利权）人： | 塔工程有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)11363 | 代理人： | 张文,郭放 |
| 地址： | 韩国庆*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本文公开一种阵列测试装置，其可防止调制器摇晃或倾斜。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种阵列测试装置，包括：调制器，所述调制器面对玻璃面板设置；固定块，所述固定块绕所述调制器设置；移动块，所述移动块联接到所述调制器，所述移动块由所述固定块支撑以能被抬升；吹气单元，所述吹气单元朝所述玻璃面板吹气，使得所述调制器沿远离所述玻璃面板的第一方向移动；外力提供单元，所述外力提供单元设置在所述固定块与所述移动块之间，所述外力提供单元将外力施加到所述移动块，使得移动块沿与所述第一方向相反的第二方向移动；以及控制单元，所述控制单元控制所述外力的强度；其中，所述外力提供单元包括沿所述固定块和所述移动块的周缘方向绕所述调制器设置的多个外力提供单元，并且从所述外力提供单元产生的外力的强度被单独地控制。
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