[发明专利]半导体封装件及其制法有效

专利信息
申请号: 201210192571.0 申请日: 2012-06-12
公开(公告)号: CN103426855A 公开(公告)日: 2013-12-04
发明(设计)人: 萧惟中;林俊贤;白裕呈;洪良易;孙铭成;唐绍祖;蔡瀛洲;蓝章益 申请(专利权)人: 矽品精密工业股份有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L23/31;H01L21/56;H01L21/683
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种半导体封装件及其制法,该半导体封装件的制法包括先于第一承载板上制作封装基板,再结合第二承载板于该封装基板上;接着,移除该第一承载板;之后于该封装基板上进行置晶与封装工艺;最后移除该第二承载板。借由该第一与第二承载板提供该封装基板于工艺中足够的刚性,使该封装基板可朝薄型化作设计,且不会发生碎裂或翘曲的情况。
搜索关键词: 半导体 封装 及其 制法
【主权项】:
一种半导体封装件,其包括:封装基板,其包含绝缘保护层与埋设于该绝缘保护层中的线路层,该线路层具有相对的第一表面与第二表面,且该线路层包含第一子线路层、第二子线路层与第三子线路层,其中,该线路层的第一表面外露于该绝缘保护层,又该绝缘保护层具有至少一开孔,以令该线路层的部份第二表面外露于该开孔;芯片,其设于该封装基板上,且电性连接该线路层的第一表面;以及封装胶体,其形成于该封装基板上,且包覆该芯片,并外露该开孔。
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