[发明专利]半导体装置有效
申请号: | 201210192917.7 | 申请日: | 2012-06-12 |
公开(公告)号: | CN102832204A | 公开(公告)日: | 2012-12-19 |
发明(设计)人: | 洪建州;李东兴;黄裕华;杨明宗 | 申请(专利权)人: | 联发科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/64 | 分类号: | H01L23/64 |
代理公司: | 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 | 代理人: | 于淼;杨颖 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种半导体装置,包括:半导体基底,具有第一导电型,且具有被密封环区所围绕的芯片区。绝缘层位于半导体基底上。第一密封环结构埋设于绝缘层内且对应于密封环区。第一电容器位于密封环结构下方并与其电性连接,其中电容器包括半导体基底的主体。本发明提出的半导体装置,利用在密封环结构下方设置电容器并与其电性连接,以减轻或排除基底噪声耦合的问题。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,包括:半导体基底,具有第一导电型,且具有被密封环区所围绕的芯片区;绝缘层,位于所述半导体基底上;第一密封环结构,埋设于所述绝缘层内且对应于所述密封环区;以及第一电容器,位于所述第一密封环结构下方并与其电性连接,其中所述第一电容器包括所述半导体基底的主体。
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