[发明专利]基于忆阻器和晶体管的存储器及实现多阻态的方法有效

专利信息
申请号: 201210195545.3 申请日: 2012-06-13
公开(公告)号: CN102709306A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 刘力锋;于迪;李悦;陈冰;张飞飞;韩德栋;王漪;康晋锋;张兴 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L27/24 分类号: H01L27/24;G11C11/56
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及半导体制造技术领域,公开了一种基于忆阻器和晶体管的存储器,包括串联的高迁移率晶体管和忆阻器,所述高迁移率晶体管是以锗或者III-V族材料作为衬底和沟道材料的MOS晶体管。本发明还提供了一种利用该存储器实现多阻态的方法。本发明通过高迁移率MOS晶体管和忆阻器串联方式,解决了常规MOS晶体管的驱动电流与多阻态存储器开态电流不匹配的问题,同时,利用高迁移率MOS晶体管的大驱动电流能力优势可以获得不同的器件阻态,从而增加数据存储密度,获得较快的存储器件工作速度。
搜索关键词: 基于 忆阻器 晶体管 存储器 实现 多阻态 方法
【主权项】:
一种基于忆阻器和晶体管的存储器,其特征在于,包括串联的高迁移率晶体管和忆阻器,所述高迁移率晶体管是以锗或者III‑V族材料作为衬底和沟道材料的MOS晶体管。
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