[发明专利]便于检查V-CUT品质的电路板及其电路板测试方法有效

专利信息
申请号: 201210206663.X 申请日: 2012-06-21
公开(公告)号: CN103513141A 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 曹骞 申请(专利权)人: 国基电子(上海)有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201613 上海市松*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种便于检查V-CUT品质的电路板,其包括绝缘层及设于该绝缘层上的镀铜板,该镀铜板包括基板及形成于该基板两侧面的第一镀铜层及第二镀铜层,该第二镀铜层与该绝缘层贴合;该第一镀铜层上定义一V-CUT线,该电路板于该V-CUT线一侧开设有两个穿透该镀铜板的测试孔,该测试孔中填充导电材料以形成测试点;该电路板还包括形成于该第二镀铜层靠近该绝缘层的一侧的测试线,该测试线电性连接两测试点,且该测试线经过V-CUT处。本发明还提供一种电路板的测试方法。上述电路板由于在第二镀铜层上形成有测试线,在V-CUT后,通过测量测试线是否导通,能够判断V-CUT是否切至第二镀铜层。
搜索关键词: 便于 检查 cut 品质 电路板 及其 测试 方法
【主权项】:
一种便于检查V‑CUT品质的电路板,其包括绝缘层及设于该绝缘层上的镀铜板,该镀铜板包括基板及形成于该基板两侧面的第一镀铜层及第二镀铜层,该第二镀铜层与该绝缘层贴合;该第一镀铜层上定义一V‑CUT线,其特征在于:该电路板于该V‑CUT线一侧开设有两个穿透该镀铜板的测试孔,该测试孔中填充导电材料以形成测试点;该电路板还包括形成于该第二镀铜层靠近该绝缘层的一侧的测试线,该测试线电性连接两测试点,且该测试线经过V‑CUT处。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国基电子(上海)有限公司,未经国基电子(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210206663.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top