[发明专利]用于试样的图像显示方法及其光学显微设备有效
申请号: | 201210212564.2 | 申请日: | 2012-06-21 |
公开(公告)号: | CN102841079B | 公开(公告)日: | 2017-03-01 |
发明(设计)人: | J·弗林格 | 申请(专利权)人: | 徕卡显微系统复合显微镜有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G02B21/36 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司11280 | 代理人: | 王勇,王博 |
地址: | 德国韦*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明描述了一种用于试样(16)图像显示的方法和设备。通过借助于成像光学系统(40)使样试(16)在图像传感器(28)上成像,而摄取单一图像序列。为了每个单一图像的摄取均对试样(16)提供了标记物结构,在所述标记物结构中,单一标记物借助于成像光学系统(40)以空间可相互分开的光分布(82)的形式在图像传感器(28)上成像。确定所述光分布(82)的重心位置(84、86、88),并重叠成该试样(16)的全图。按本发明,在摄取单一图像序列期间测量引起图像偏移的温度数值(△T1、△T2、…,△Tn)。按预定的分配数据(400)将取决于温度的偏移数值(△X1、△X2、…,△Xn;△Y1、△Y2、…,△Yn)分配给引起图像偏移的温度数值(△T1、△T2、…,△Tn)。按偏移数值(△X1、△X2、…,△Xn;△Y1、△Y2、…,△Yn)校正所确定的重心位置(84、86、88)。 | ||
搜索关键词: | 用于 试样 图像 显示 方法 及其 光学 显微 设备 | ||
【主权项】:
一种应用光学显微设备(100)以用于试样(16)图像显示的方法,所述光学显微设备包括成像光学系统(40)和图像传感器(28),所述方法包括下列步骤:通过借助于成像光学系统(40)对试样(16)的连续成像,在图像传感器(28)上摄取单一图像的序列,其中对每个单一图像的摄取均为试样(16)提供标记物结构,在所述标记物结构中,各标记物可借助于成像光学系统(40)以空间上可相互分开的光分布(82)形式在图像传感器(28)上成像,确定该光分布(82)的重心位置(84、86、88),所述重心位置在各单一图像中显示所成像的标记物,和将确定的重心位置(84、86、88)重叠成试样(16)的全图,其特征在于,在摄取单一图像序列期间测量引起图像偏移的温度数值(△T1、△T2、…,△Tn),按预定的分配数据(400)将温度相关的偏移数值(△X1、△X2、…,△Xn;△Y1、△Y2、…,△Yn)分配给引起图像偏移的温度数值(△T1、△T2、…,△Tn),按偏移数值(△X1、△X2、…,△Xn;△Y1、△Y2、…,△Yn)校正所确定的重心位置(84、86、88),并且在摄取代表单一图像序列的原始数据之后根据校正的重心位置形成试样的无偏移的完整定位显微图像。
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