[发明专利]一种薄膜晶体管的制作方法和薄膜晶体管有效

专利信息
申请号: 201210224544.7 申请日: 2012-06-29
公开(公告)号: CN103295906A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 周思思;陈晨 申请(专利权)人: 上海中航光电子有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L29/786;G02F1/1362;G02F1/1368
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 201108 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种薄膜晶体管的制作方法,包括:提供一基板;在基板表面上形成薄膜晶体管的栅极;在栅极和基板表面上淀积第一栅极绝缘层,并在栅极上方区域形成第一栅极绝缘层开口;在栅极和第一栅极绝缘层表面上淀积第二栅极绝缘层;在第二栅极绝缘层表面上淀积半导体层,形成硅岛,且硅岛位于栅极上方区域;在硅岛和第二栅极绝缘层表面上淀积第二金属层,形成薄膜晶体管的源极和漏极。在需要减小栅极绝缘膜厚度的区域,栅极绝缘层的厚度为第二栅极绝缘层的厚度;在需要增加绝缘膜厚度的区域,栅极绝缘层的厚度为第一栅极绝缘层和第二栅极绝缘层厚度的叠加。可以避免驱动薄膜晶体管的集成电路输出的信号发生波形变形,时间上发生延迟的问题。
搜索关键词: 一种 薄膜晶体管 制作方法
【主权项】:
一种薄膜晶体管的制作方法,其特征在于,包括:提供一基板;在所述基板表面上淀积第一金属层,图案化所述第一金属层,形成薄膜晶体管的栅极;在所述栅极和基板表面上淀积第一栅极绝缘层,图案化所述第一栅极绝缘层,在栅极上方区域形成第一栅极绝缘层开口;在所述栅极和第一栅极绝缘层表面上淀积第二栅极绝缘层;在所述第二栅极绝缘层表面上淀积半导体层,图案化所述半导体层,形成硅岛,且所述硅岛位于所述栅极上方区域;在所述硅岛和第二栅极绝缘层表面上淀积第二金属层,图案化所述第二金属层,形成薄膜晶体管的源极和漏极。
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