[发明专利]X射线荧光分析校准所用校准样品的制备和定值方法有效

专利信息
申请号: 201210249502.9 申请日: 2012-07-18
公开(公告)号: CN103575756A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 马振珠;刘玉兵;戴平;韩蔚;王忠文;赵鹰立;张亚珍;闫冉 申请(专利权)人: 中国建材检验认证集团股份有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 鲁兵
地址: 100024 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明一种X射线荧光分析校准所用校准样品的制备和定值方法,利用实验室收到的实际样品为基体,通过掺入基准试剂(或替代试剂)来制备校准样品。校准样品的数量及各成份的质量分数范围可以任意控制,校准样品的定值全部通过X射线荧光仪完成,无需进行化学分析,配备X-射线荧光分析仪的实验室即可自行制备校准样品,无需化学分析实验室及相关技术人员协助。
搜索关键词: 射线 荧光 分析 校准 所用 样品 制备 方法
【主权项】:
一种X射线荧光分析校准所用校准样品的制备和定值方法,包括以下步骤:1)根据样品S的化学成份i,准备各化学成分相应的化学试剂,将试样S与各化学试剂按设定的比例(1‑Xi):Xi分别混合均匀,制得各化学成份的极端样品;2)将步骤1)中得到的对应某一化学成份i的极端样品与试样S按Ym:(1‑Ym)的比例混合,Ym为0~1范围内的任意赋值,制备得到n个对应化学成份i的混合样,n为大于4的自然数;同样制备各化学成分的混合样;3)对每一混合样中各化学成分的质量分数定值,混合样即为对应化学成分检测的校准样品。
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