[发明专利]一种光学测试系统有效
| 申请号： | 201210249979.7 | 申请日： | 2012-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN102798593A | 公开（公告）日： | 2012-11-28 |
| 发明（设计）人： | 潘建伟 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;黄灿 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的目的在于提高一种光学测试系统，使得夹具及测试系统能适应不同尺寸的待测模组，提高夹具的适应性，降低测试成本中的夹具成本。本发明实施例的光学测试系统包括：机台；安装于所述机台上的第一导轨，与机台表面平行；设置于所述第一导轨上，可在所述第一导轨上滑动，能够配合夹持待测模组的第一滑块和第二滑块。本发明实施例的光学测试系统能够适用于长/宽不同的待测模组，提高了夹具的适应性，也就不用再为每一个尺寸不同的待测模组单独设计、制造夹具，降低了测试成本中的夹具成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种光学测试系统，其特征在于，包括：机台；安装于所述机台上的第一导轨，与机台表面平行；设置于所述第一导轨上，可在所述第一导轨上滑动，能够配合夹持待测模组的第一滑块和第二滑块。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司，未经京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210249979.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
