[发明专利]IC封装凸块的制造工艺无效

专利信息
申请号: 201210293532.X 申请日: 2012-08-17
公开(公告)号: CN102856221A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 余家良 申请(专利权)人: 江苏汇成光电有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60
代理公司: 苏州广正知识产权代理有限公司 32234 代理人: 刘述生
地址: 225000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种IC封装凸块的制造工艺,包括如下步骤:提供一硅片,硅片上至少形成有一铝垫及一硅片护层,在硅片上至少形成一双层凸块,双层凸块覆盖铝垫及硅片护层;在硅片上还至少形成一保护层,在保护层上至少形成一导电层;在硅片表面上至少形成一层厚度均一的光阻层,光阻层全部覆盖保护层和导电层;在硅片上对需要形成双层凸块的地方进行曝光和显影;在硅片表面沉积双层凸块;移除硅片表面的光阻层;采用化学蚀刻将多余的金属区域去除。通过上述方式,本发明IC封装凸块的制造工艺流程简单,能够制造出金加钯的双层凸块,作用于结合晶片和面板,能够降低材料成本,产品寿命更长,可靠度更加,增强了市场竞争性。
搜索关键词: ic 封装 制造 工艺
【主权项】:
一种IC封装凸块的制造工艺,其特征在于,包括如下步骤:a、提供一硅片,其中所述硅片上至少形成有一铝垫及一硅片护层,在所述硅片上至少形成一双层凸块,所述双层凸块覆盖铝垫及硅片护层;b、在硅片上还至少形成一保护层,在所述保护层上至少形成一导电层;c、在硅片表面上至少形成一层厚度均一的光阻层,所述光阻层完全覆盖保护层和导电层;d、在硅片上对需要形成双层凸块的地方进行曝光和显影;e、在硅片表面沉积双层凸块;f、移除硅片表面的光阻层;g、采用化学蚀刻将多余的金属区域去除。
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