[发明专利]IC封装凸块的制造工艺无效
申请号: | 201210293532.X | 申请日: | 2012-08-17 |
公开(公告)号: | CN102856221A | 公开(公告)日: | 2013-01-02 |
发明(设计)人: | 余家良 | 申请(专利权)人: | 江苏汇成光电有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60 |
代理公司: | 苏州广正知识产权代理有限公司 32234 | 代理人: | 刘述生 |
地址: | 225000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种IC封装凸块的制造工艺,包括如下步骤:提供一硅片,硅片上至少形成有一铝垫及一硅片护层,在硅片上至少形成一双层凸块,双层凸块覆盖铝垫及硅片护层;在硅片上还至少形成一保护层,在保护层上至少形成一导电层;在硅片表面上至少形成一层厚度均一的光阻层,光阻层全部覆盖保护层和导电层;在硅片上对需要形成双层凸块的地方进行曝光和显影;在硅片表面沉积双层凸块;移除硅片表面的光阻层;采用化学蚀刻将多余的金属区域去除。通过上述方式,本发明IC封装凸块的制造工艺流程简单,能够制造出金加钯的双层凸块,作用于结合晶片和面板,能够降低材料成本,产品寿命更长,可靠度更加,增强了市场竞争性。 | ||
搜索关键词: | ic 封装 制造 工艺 | ||
【主权项】:
一种IC封装凸块的制造工艺,其特征在于,包括如下步骤:a、提供一硅片,其中所述硅片上至少形成有一铝垫及一硅片护层,在所述硅片上至少形成一双层凸块,所述双层凸块覆盖铝垫及硅片护层;b、在硅片上还至少形成一保护层,在所述保护层上至少形成一导电层;c、在硅片表面上至少形成一层厚度均一的光阻层,所述光阻层完全覆盖保护层和导电层;d、在硅片上对需要形成双层凸块的地方进行曝光和显影;e、在硅片表面沉积双层凸块;f、移除硅片表面的光阻层;g、采用化学蚀刻将多余的金属区域去除。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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