[发明专利]电子设备的测试方法、测试装置、测试工装和测试系统有效
| 申请号： | 201210296440.7 | 申请日： | 2012-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN103631246B | 公开（公告）日： | 2017-02-08 |
| 发明（设计）人： | 谭泽汉;牛安;彭志富 | 申请（专利权）人： | 珠海格力电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人： | 吴贵明,余刚 |
| 地址： | 519070 *** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子设备的测试方法、测试装置、测试工装和测试系统。该测试方法包括在电子设备执行测试命令后，采集电子设备的图像，以得到对比图像；提取对比图像的信息；比较提取到的信息和预存的标准信息，其中，标准信息包括电子设备执行测试命令后的正确执行结果；以及根据比较结果输出电子设备执行测试命令的结果。通过本发明，能够实现电子设备的自动化测试，提高了电子设备测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 测试 方法 装置 工装 系统 | ||
【主权项】：
一种电子设备的测试方法，其特征在于，包括：在电子设备执行测试命令后，采集所述电子设备的图像，以得到对比图像；提取所述对比图像的信息；比较提取到的信息和预存的标准信息，其中，所述标准信息包括所述电子设备执行所述测试命令后的正确执行结果；以及根据比较结果输出所述电子设备执行所述测试命令的结果；提取所述对比图像的信息包括：提取所述对比图像的有效信息，其中：提取所述对比图像的有效信息的步骤包括：对所述对比图像通过阈值化函数进行阈值化，其中，阈值化结果为1的像素点为所述对比图像中第一部分的像素点，阈值化结果为0的像素点为所述对比图像中第二部分的像素点，所述第一部分为显示器的背光区域对应的图像部分，所述第二部分为所述对比图像中除所述第一部分之外的部分；读取所述对比图像各像素点的像素值，将所述第二部分中所有像素点的像素值替换为0；对像素替换后的所述对比图像进行颗粒滤波和填充处理；通过边缘检测处理颗粒滤波和填充处理后的所述对比图像，以得到所述第一部分在所述对比图像中的坐标范围；以及对所述坐标范围内的图像进行图像处理，以得到所述对比图像的有效信息。
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