[发明专利]模型约束静校正法的校正量计算方法有效
| 申请号： | 201210296569.8 | 申请日： | 2012-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN102841382A | 公开（公告）日： | 2012-12-26 |
| 发明（设计）人： | 龙资强;敬龙江;耿春;胡善政;黎书琴;孙伟鹏;邓雁 | 申请（专利权）人： | 中国石油集团川庆钻探工程有限公司地球物理勘探公司 |
| 主分类号： | G01V1/36 | 分类号： | G01V1/36 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 谭昌驰 |
| 地址： | 610213 四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及地球物理勘探技术，尤其涉及利用表层模型准确计算静校正量的方法。本发明的模型约束静校正法的校正量计算方法，其特征在于，所述方法包括如下几个步骤：(a)对目标区域建立表层模型；(b)采用模型静校正法计算出表层模型的第一参考校正量；(c)对所述第一参考校正量进行分解，并取得所述第一参考校正量的第一长波长分量；(d)采用非确定性静校正法计算出第二参考校正量；(e)对所述第二参考校正量进行分解以获得所述第二参考校正量的第二长波长分量；(f)从所述第二参考校正量中减去第二长波长分量以获得第二短波长分量；(g)将第一长波长分量和第二短波长分量相加，以获得目标校正量。 | ||
| 搜索关键词： | 模型 约束 校正 计算方法 | ||
【主权项】：
一种模型约束静校正法的校正量计算方法，其特征在于，所述方法包括如下几个步骤：(a)对目标区域建立表层模型；(b)采用模型静校正法计算出表层模型的第一参考校正量；(c)对所述第一参考校正量进行分解，并取得所述第一参考校正量的第一长波长分量；(d)采用非确定性静校正法来对地震勘探数据计算出第二参考校正量；(e)对所述第二参考校正量进行分解以获得所述第二参考校正量的第二长波长分量；(f)从所述第二参考校正量中减去第二长波长分量，以获得第二短波长分量；(g)将第一长波长分量和第二短波长分量相加，以获得目标校正量。
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