[发明专利]远红外线材料分析及制造方法无效
| 申请号： | 201210329031.2 | 申请日： | 2012-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN102998320A | 公开（公告）日： | 2013-03-27 |
| 发明（设计）人： | 陈智成;廖健宏 | 申请（专利权）人： | 远东科技大学 |
| 主分类号： | G01N23/22 | 分类号： | G01N23/22;G01N23/20;G01N1/28 |
| 代理公司： | 厦门市诚得知识产权代理事务所(普通合伙) 35209 | 代理人： | 赖开慧 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开一种远红外线材料的分析及制造方法，分析方法包括有：A.对一电气石加热至出现莫来石结晶相之工作温度；B.在该电气石上取得一观察剖面；C.在该观察剖面上区隔出莫来石结构区域与非莫来石结构区域；D.侦测该非莫来石结构区域的X光能谱，以确认该非莫来石结构区域所含成份内容；E.对该观察剖面进行结晶相分析，获得非莫来石结构区域的结晶相信息；F.根据所获得的非莫来石结构区域之成份与结晶相信息，作为调配远红外线材料的参考信息；其制造方法则在于选择相符成份，再将该成份加热至符合步骤E的结晶相，借以制作一远红外线材料。 | ||
| 搜索关键词： | 红外线 材料 分析 制造 方法 | ||
【主权项】：
一种远红外线材料分析方法，包括下列步骤：A.对一电气石加热至出现莫来石结晶相工作温度； B.在该电气石上取得一观察剖面； C.在该观察剖面上区隔出莫来石结构区域与非莫来石结构区域； D.侦测该非莫来石结构区域的X光能谱，以确认该非莫来石结构区域之所含成份内容； E.对该观察剖面进行结晶相分析，获得非莫来石结构区域的结晶相信息； F.根据步骤D与步骤E所获得非莫来石结构区域之成份与结晶相信息，作为调配远红外线材料的参考信息。
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