[发明专利]检测装置无效
| 申请号： | 201210382092.5 | 申请日： | 2012-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN103728544A | 公开（公告）日： | 2014-04-16 |
| 发明（设计）人： | 蔡泰成;吴岱纬;许国君;许寿文;李允立 | 申请（专利权）人： | 新世纪光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 | 代理人： | 董云海;彭晓玲 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种检测装置，其包含载台、点测装置、光感测装置及聚光单元。载台用以承载待测的复数个发光二极管晶片。点测装置包含二探针及一电源供应器，探针的二端分别电性连接复数个发光二极管晶片之一者及电源供应器，以令此发光二极管晶片发出复数道光线。光感测装置设于发光二极管晶片的出光面的一侧，用以接收发光二极管晶片发出的复数道光线。聚光单元设于发光二极管晶片与光感测装置之间，用以达到聚集发光二极管晶片发出的复数道光线的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种检测装置，其特征在于，该检测装置至少包含：一载台，该载台用以承载待测的复数个发光二极管晶片；一点测装置，该点测装置包含二探针及一电源供应器，这些探针的二端分别电性连接这些发光二极管晶片之一者及该电源供应器，以令该发光二极管晶片发出复数道光线；一光感测装置，该光感测装置设于该发光二极管晶片的出光面的一侧；以及一聚光单元，该聚光单元设于该发光二极管晶片与该光感测装置之间。
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