[发明专利]污点检测有效
| 申请号： | 201210389155.X | 申请日： | 2012-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN103366358A | 公开（公告）日： | 2013-10-23 |
| 发明（设计）人： | 陈萍;何超;加里·罗斯 | 申请（专利权）人： | NCR公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 上海脱颖律师事务所 31259 | 代理人： | 脱颖 |
| 地址： | 美国佐*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 介绍了一种在介质项目上检测污损的方法。该方法包括：接收介质项目的图像，其中图像包括多个在亮度值范围内具有不同亮度值的像素。中心加权被应用到所接收的图像内以扩大亮度值范围的中心部位。阈值被应用到中心加权图像内的每一个像素以便将每一个像素转化为二进制值从而创建包含多个像素的评估图像，每一个像素都具有两个可能值中的一个。通过将评估图像内的像素与二进制参考图像中在相应空间位置处的像素进行比较来创建差分图像，以使差分图像包括(i)在评估图像内的像素具有低亮度像素和在二进制参考图像内相应像素具有高亮度像素的每一个空间位置处的污点像素，以及(ii)在所有其它空间位置处的无污点像素。在差分图像满足污损标准的情况下指示介质项目有污损。 | ||
| 搜索关键词： | 污点 检测 | ||
【主权项】：
一种在介质项目上检测污损的方法，所述方法包括：接收所述介质项目的图像，其中所述图像包括多个具有在亮度值范围内不同亮度值的像素；使用来自具有亮度值范围中心部位内亮度值的图像的像素以创建中心加权图像；将阈值应用到所述中心加权图像内的每一个像素以将每一个像素都转化为二进制值从而创建包含多个像素的评估图像，每一个像素都具有两个可能值中的一个；通过将评估图像内的像素与二进制参考图像中在相应空间位置处的像素进行比较来计算出二进制参考图像与评估图像之间的差分图像，以使差分图像包括(i)在所述评估图像内的像素具有低亮度像素并且在所述二进制参考图像内相应像素具有高亮度像素的每一个空间位置处的污点像素，以及(ii)在所有其它空间位置处的无污点像素；在差分图像满足污损标准的情况下指示所述介质项目有污损。
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