[发明专利]一种多尺寸晶圆对中装置有效
申请号: | 201210391435.4 | 申请日: | 2012-10-16 |
公开(公告)号: | CN103730400A | 公开(公告)日: | 2014-04-16 |
发明(设计)人: | 张杨 | 申请(专利权)人: | 沈阳芯源微电子设备有限公司 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 白振宇 |
地址: | 110168 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明涉及半导体设备晶圆位置的矫正设备,具体地说是一种多尺寸晶圆对中装置,包括工作台、动力装置、夹持机构、承片台及支撑柱,其中动力装置安装在工作台上,所述承片台安装在工作台上,在承片台的周围分布有多个支撑柱,承片台的顶端与各支撑柱的顶端存在高度差、承载不同尺寸的晶圆;所述夹持机构与动力装置的输出端相连,通过动力装置的驱动由承片台及支撑柱的两侧向内夹持晶圆,完成晶圆的对中。本发明通过晶圆支撑点的不同来区分不同尺寸的晶圆,实现对中功能,整个装置只有一个运动机构,极大地减小了运动摩擦等原因带来的污染;本发明具有结构简单、节省空间、易于安装、调试方便、价格低廉等特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 尺寸 装置 | ||
【主权项】:
一种多尺寸晶圆对中装置,其特征在于:包括工作台(11)、动力装置、夹持机构、承片台(8)及支撑柱(9),其中动力装置安装在工作台(11)上,所述承片台(8)安装在工作台(11)上,在承片台(8)的周围分布有多个支撑柱(9),承片台(8)的顶端与各支撑柱(9)的顶端存在高度差、承载不同尺寸的晶圆;所述夹持机构与动力装置的输出端相连,通过动力装置的驱动由承片台(8)及支撑柱(9)的两侧向内夹持晶圆,完成晶圆的对中。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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