[发明专利]晶粒拾取控制方法、应用该方法的晶粒拾取装置及包括该装置的黏晶机无效
申请号: | 201210395393.1 | 申请日: | 2012-10-18 |
公开(公告)号: | CN103579061A | 公开(公告)日: | 2014-02-12 |
发明(设计)人: | 黄度渊 | 申请(专利权)人: | 乌里亚特股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L21/58 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 冯志云;吕俊清 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明涉及晶粒拾取控制方法、应用该方法的晶粒拾取装置及包括该装置的黏晶机。方法包含:下降传送单元以使与传送单元连接的拾取单元的筒夹的底部自等待针水平下降至低速接近水平,当筒夹抵达低速接近水平时,减少下降速度;提升顶出器以自等待针水平提升与顶出器连接的顶出针至第一升针水平直到顶出针与黏着胶带接触;当传送单元向下移动而使筒夹的底部抵达芯片接触水平且接触晶粒的顶部时,暂停传送单元及顶出器的垂直移动一接触延迟时间;暂停传送单元的垂直移动拾取延迟时间,并提升顶出器以将顶出针提升至第二升针水平以及推起晶粒;暂停顶出器的垂直移动降针延迟时间,并提升传送单元以提升吸附晶粒的筒夹;及下降顶出器以下降顶出针。 | ||
搜索关键词: | 晶粒 拾取 控制 方法 应用 装置 包括 黏晶机 | ||
【主权项】:
一种晶粒拾取方法,用于自附着于一黏着胶带的一晶片分离出一半导体晶粒,该方法包含:下降一传送单元以使一与该传送单元连接的拾取单元的一筒夹的底部自一等待针水平下降至一低速接近水平,且当该筒夹抵达该低速接近水平时,减少一下降速度;提升一顶出器,以将一与该顶出器连接的顶出针从该等待针水平提升至一第一升针水平直到该顶出针与一黏着胶带接触;当该传送单元向下移动而使该筒夹的底部抵达一芯片接触水平且接触该晶粒的顶部时,暂停该传送单元及该顶出器的垂直移动一接触延迟时间;暂停该传送单元的垂直移动一拾取延迟时间,并提升该顶出器以将该顶出针提升至一第二升针水平以及推起该晶粒;暂停该顶出器的垂直移动一降针延迟时间,并提升该传送单元以提升吸附该晶粒的筒夹;以及下降该顶出器以下降该顶出针。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造